セミナー2/3 高分子絶縁材料の劣化・絶縁破壊メカニズムとその計測・データ解釈
高分子絶縁材料の劣化・絶縁破壊メカニズムと
その計測・データ解釈
PDFパンフレット(セミナー「高分子絶縁材料の劣化・絶縁破壊メカニズムとその計測・データ解釈」)
主 催
S&T出版株式会社
日 時 ・ 場 所
日時：2016年2月3日(水) 10:30～16:30
会場：高橋ビルヂング（東宝土地(株)） 会議室 （東京都千代田区神田神保町3-2）
→会場へのアクセス
受 講 料 （税込）
49,800円 Ｅメール案内会員価格 47,300円 ※昼食・資料代を含む
＜1名様分の受講料で2名様まで受講できます。＞
※2名様ご参加は同一会社・法人からの同時申込に限ります。
※2名様ご参加は2名様分の参加申込が必要です。ご連絡なく2名様のご参加はできません。
※3名様以上のご参加は、追加1名様あたり10,800円OFFになります。
Ｅメール案内登録をしていただいた方には、Ｅメール案内会員価格を適用いたします。
→複数名同時申込はこちらの用紙（PDF）をご利用ください。
講 師
村上 義信 氏 ／ 豊橋技術科学大学 電気・電子情報工学系 准教授
【略歴】
2001年4月 長野工業高等専門学校・電気工学科助手。
2002年3月 豊橋技術科学大学大学院工学研究科博士後期課程修了。
2003年8月 豊橋技術科学大学・技術開発センター助手。
2008年4月 同大学大学院工学研究科電気・電子工学系講師。
2010年4月 同大学同研究科電気・電子情報工学系准教授。
現在に至る。
博士(工学)。主として、絶縁材料中の内部蓄積電荷に関する研究に従事。IEEE会員。
趣 旨
電気システムにおいて絶縁物を扱う機会は頻繁にありますが、絶縁物は支持物としても用いられ、機械的強度を確保すると、普通電気的には十分な余裕をもたせることができます。しかし電界の集中や絶縁物の劣化などにより、思わぬところで絶縁破壊が生じることもあるため、システムの信頼性の要となる絶縁系の電気特性の劣化や電気的破壊現象についての知識が必要とされます。
本講座では、大学の高電圧工学の一環として行われている絶縁の基礎を中心とした誘電・絶縁現象の基礎理論、計測法、現状における対策法等、電気絶縁材料の劣化に関する解説を行います。特に計測の節においてはその解釈の間違いを防ぐため、計測原理およびそのデータの物理的意味等を解説します。
受講に必要な知識
電気工学の基礎知識
本セミナーで得られる知識
固体絶縁材料を中心とした絶縁破壊理論、部分放電現象、電気トリー現象、計測・診断方法、基本的な劣化機構の考え方
プログラム詳細
1. 絶縁物はなぜ壊れるか（絶縁破壊の基礎過程）
(1). 熱破壊
(2). 真性破壊
(3). 電子熱破壊
(4). 電子なだれ
(5). 電気機械破壊
(6). 空間電荷、部分放電、電気トリーの影響
2. 劣化が進んで破壊する過程（基本的劣化メカニズムとその定量的取扱い）
(1). 熱劣化
(2). 部分放電
(3). 電気トリー
(4). 水トリー
(5). トラッキング
(6). 劣化の定量化
(7). 劣化対策法
3. 各種計測法とデータ解釈
(1). 絶縁破壊試験
(2). 伝導電流測定
(3). 部分放電計測
(4). 空間電荷測定
(5). 誘電特性評価
