ST161028 よくわかる製品の劣化・信頼性解析入門
よくわかる製品の劣化・信頼性解析入門
主 催
S&T出版株式会社
日 時 ・ 場 所
日時：2016年10月28日(金) 13:00～16:30
会場：高橋ビルヂング(東宝土地(株)) 会議室 (東京都千代田区神田神保町3-2)
→会場へのアクセス
受 講 料 (税込)
43,200円 Ｅメール案内会員価格 41,000円 ※資料代を含む
＜1名様分の受講料で2名様まで受講できます。＞
※2名様ご参加は同一会社・法人からの同時申込に限ります。
※2名様ご参加は2名様分の参加申込が必要です。ご連絡なく2名様のご参加はできません。
※3名様以上のご参加は、追加1名様あたり10,800円OFFになります。
Ｅメール案内登録をしていただいた方には、Ｅメール案内会員価格を適用いたします。
講 師
河合 晃 氏
長岡技術科学大学大学院 電気電子情報工学専攻 電子デバイス・フォトニクス工学講座 教授
研究成果活用企業（大学ベンチャー） アドヒージョン株式会社 代表取締役 兼務
【略歴】
三菱電機（株）LSI研究所での１０年間の試作開発、量産移管、および製造管理を経て、現在、大学教員として基礎応用研究と産学連携に従事している。専門は、電子デバイス、塗膜コーティング、接着など多分野に及ぶ。製品歩留まり、ライン管理、信頼性、安全、クリーンルーム管理等にも実績を有する。論文発表１５０報以上、国際学会発表１００件以降、国内学会２００件以上、著書３０冊、受賞８件の実績がある。また、NEDO技術委員、公的助成審査委員、各種論文査読委員を歴任している。指導学生は８０名以上を数える。
趣 旨
ライン管理、製品の品質保証、研究開発などにおいて、データの取扱いや解析は重要である。これらのデータの取得、まとめ及び解析方法の基礎を習得することは企業における生産活動において必要不可欠である。また、製品の劣化要因を知ることは、高品位な製品供給の上でも重要である。本講座では、製品の劣化・信頼性解析に注目し、現場ですぐに使える知識を分かりやすく説明します。
受講に必要な知識
特別な知識は不要です。
本セミナーで得られる知識
様々なデータの取扱いの基礎、製品の信頼性確保に関する基礎知識
プログラム詳細
1. データの扱い方
1.2 有効数字とは（意味のある数値とは）
1.3 平均値とは（いろいろな平均値がある）
1.4 標準偏差とは（製造ラインの管理方法）
2. データの取得方法
2.1 サンプル数の決定（最適なサンプル数とは）
2.2 サンプリングと全数検査（どのように使い分けるか）
3. データーの整理方法
3.1 パレート図（要因分析方法）
3.2 散布図とヒストグラム（効果的な表示法）
3.3 図表のまとめ方（公表できるデータの整理方法）
4. データーの解析方法
4.1 確率とは（データを正しく解釈する）
4.2 関係性の有無（相関係数により決定する）
4.3 違いの有無（取得データの偏りの有無）
4.4 推定（サンプルから全体像を把握する）
5. 製品の劣化要因とは
（熱、帯電、溶液浸透、内部応力、紫外線、活性化エネルギー）
6. 寿命とは
（不良率とは、バスタブ曲線、ワイブル分布とは）
7. 加速試験
（寿命予測、加速試験の実際）
8. 各種製品の劣化と信頼性
8.1 電子デバイス（エレクトロマイグレーション、放射線、TDDB試験）
8.2 はんだ金属材料（腐食、酸化、接合不良）
8.3 印刷コーティング膜（紫外線硬化、熱硬化、環境応力亀裂、退色、ピンホール）
8.4 食品材料（バクテリア、長期保存食品）
8.4 界面接着剤（強度低下、吸湿性、内部応力、VF変形）
9. 製造現場の信頼性・安全性の向上のために
（性能維持管理、安全管理、意識改革）
10. 質疑応答（日頃のトラブル・開発相談に応じます）
【質疑応答・名刺交換】
